GIS局放试验方法

    GIS局放采用特高频法和超声波法检测 ，可根据实际情况选择传感器类型 ，亦可多种检测方法同时使用。特高频检测法可有效检测GIS内部的由悬浮颗粒 、导体和壳体上的突起 、盆式绝缘子内部绝缘缺陷等原因引起的局部放电 。特高频传感器的检测频率范围 ：300MHz～1.5GHz ，由于检测频率高可有效的避免现场干扰 。超声波检测法可以检测 、识别和定位GIS中的局部放电故障或振动的微粒 ，不需要预先在GIS上安装内部耦合器和传感器 ，检测时可在胸前背挎本仪器 ，手持传感器在GIS的任意位置进行检测 。超声传感器的频率范围 ：20kHz～120kHz 。

系统功能特点如下 ：

    1)方便携带 ：该系统体积小 、重量轻 ，采用电池供电适用于现场巡检 。

    2)操作简单 、功能强大：能够简单测量GIS运行中良好 、预警 、故障三个状态 ，也可以实现实时波形观察 、放电趋势显示 、放电类型判别等复杂功能 ，单台便携式GIS局部放电检测系统即可完成所有GIS的检测 。

    3)使用方便对运行设备无伤害 ：无需改造现有的GIS ，所有的检测对GIS设备的运行不产生任何影响 。

    4)多样化检测方式 ：该系统的检测方式有特高频检测法 、超声波检测法 ，几种方式可同时 、单独使用 ，发挥各自优势 ，实现全功能检测 。

    5)高灵敏度 ：在现场可测局部放电灵敏度≤-80dBμV（或＜5pC） 。对绝大多数缺陷引起的放电具有很高的灵敏度 ；先进的测试技术可以保证测量到5pC的局部放电信号 ，可以探测到小于2mm的自由颗粒 ，可以探测各种各样的颗粒 ，对颗粒进行定位 ，并判断是否活动 ，是否有害 ，有害程度如何 。

    6)高真实性 ：由于超声波测量法 、特高频测量法对现场干扰不敏感 ，保证了测量的真实性 。

    7)专家诊断系统 ：该系统可对GIS设备产生的放电进行诊断评估 ，根据由不同缺陷产生的放电特点不同识别缺陷类型 ，并且做出危险评估 ，能够检测的缺陷类型有 ：自由颗粒 、导体上的突起 、悬浮屏蔽等 。